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전자회로 실무 / 전원·계측

작은 리플(ripple)을 비교하기 전에 오프셋(offset)과 계측 잡음 조건을 맞춥니다

같은 전원을 재도 프로브(probe)와 오실로스코프(oscilloscope) 설정에 따라 리플(ripple)이 다르게 보일 수 있습니다. 회로를 바꾸기 전에 장비의 잡음과 측정 범위를 확인하고, 같은 설정으로 파형을 비교합니다.

먼저 알아둘 용어

DC(Direct Current)·리플(ripple)·Vpp — DC는 직류 수준이고 리플은 그 주변 변동입니다. Vpp는 관측 구간에서 최대값과 최소값의 차이입니다. 직류 정확도와 리플 허용값은 별도로 정의해야 합니다.

오프셋(offset)·감쇠비·대역폭 — 오프셋은 큰 직류 성분을 화면 중심에 맞추는 데 쓰는 기능입니다. 감쇠비는 프로브가 신호를 줄이는 비율이고 대역폭은 관측하는 주파수 범위입니다. 모두 작은 변동의 측정 잡음과 표현에 영향을 줍니다.

시간이 흐르면서 파형이 진행되는 모습을 보여 줍니다. 흐린 선은 전체 파형이며 진한 선은 현재까지의 구간입니다. 재생 속도와 움직임의 크기는 설명을 위한 것입니다.
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시간이 흐르면서 파형이 진행되는 모습을 보여 줍니다. 흐린 선은 전체 파형이며 진한 선은 현재까지의 구간입니다. 재생 속도와 움직임의 크기는 설명을 위한 것입니다. · 그림을 클릭하면 확대됩니다.

DC 허용 오차와 리플 기준을 나눕니다

DC 편차, 느린 드리프트와 리플 Vpp 중 무엇을 판정할지 정합니다. 1 V의 1%가 10 mV라는 산술만으로 리플 허용값이 10 mVpp가 되지는 않습니다. 실제 사양의 정의와 시험 조건을 함께 기록합니다.

큰 직류 위 작은 변동을 읽을 수 있게 설정합니다

장비가 제공하는 적절한 오프셋으로 관심 파형을 중심에 놓고 세로축 감도를 높이는 방법을 검토합니다. 프로브의 오프셋 범위·입력 허용 범위·감쇠비·잡음과 대역폭을 확인합니다. 화면 안에 파형이 들어온다고 입력단이 정상 범위라는 뜻은 아닙니다.

AC(Alternating Current) 결합이나 DC 차단은 실제 직류 수준과 느린 변화를 가릴 수 있습니다. 확인하려는 양을 남길 수 있는 방식인지 먼저 판단합니다. 특정 장비의 오프셋 기능 효과를 다른 장비의 개선 비율로 일반화하지 않습니다.

비교 설정을 파형과 함께 저장합니다

같은 측정점·전원·부하·모드에서 프로브 종류·연결·감쇠·결합·대역폭·세로축·오프셋·취득 시간을 기록합니다. 프로브까지 바꿨다면 설정 하나만 바꾼 시험이라고 부르지 않습니다. 계측기 자체 잡음을 확인할 필요가 있으면 해당 장비의 지정 절차를 적용합니다.

숫자와 파형을 함께 봅니다. 40 mV/div 화면의 높이와 2 mV/div 화면의 높이는 직접 비교할 수 없습니다. Vpp가 줄었어도 회로가 그대로라면 계측 조건의 영향일 수 있습니다. 반대로 큰 눈금 때문에 평평해 보일 수도 있습니다. 비교 결과에는 바꾼 설정과 실제로 확인한 측정 조건을 함께 기록합니다.

작업 순서를 다시 확인합니다

작은 리플을 비교하기 전에 오프셋과 계측 잡음 조건을 맞춥니다 — 설명용 도해
작은 리플을 비교하기 전에 오프셋과 계측 잡음 조건을 맞춥니다 — 설명용 도해 · 클릭하면 확대됩니다.