먼저 알아둘 용어
근접장·EMI(Electromagnetic Interference)·EMC(Electromagnetic Compatibility) — 근접장은 잡음원 가까이의 전자기장입니다. EMI는 전자기 간섭을, EMC는 장치가 주변과 양립하며 동작하는 성질을 가리킵니다. 국부 탐침 측정과 정해진 적합성 시험은 측정 구성이 다릅니다.
H형 탐침·스펙트럼(spectrum) — H형 탐침은 주로 자기장에 반응하는 루프(loop)형 도구입니다. 스펙트럼은 신호를 주파수별 크기로 나누어 보여 주며 봉우리의 주파수와 발생 위치를 함께 살펴봅니다.
위치 탐색과 변경 전후 비교를 구분합니다
동일한 기판 동작 상태에서 관심 주파수와 영역을 정합니다. 탐침을 이동·회전하며 강한 지점을 찾을 때는 위치와 주파수를 한 쌍으로 남깁니다. 클록(clock)이나 스위칭(switching) 주파수의 정수배와 일치하는 성분은 원인을 추적할 단서지만, 회로 동작과 추가 대조하기 전에는 원인 확정으로 기록하지 않습니다.
큰 루프는 감도가 높은 대신 작은 발생 위치를 구분하기 어렵고 작은 루프는 위치를 좁히는 데 유리한 대신 감도가 낮을 수 있습니다. 루프의 방향에 따라서도 반응이 달라집니다. 탐침을 작게 바꾸거나 회전해서 값이 줄어든 것을 설계 개선으로 오해하지 않습니다.
비교할 때는 위치뿐 아니라 전체 조건을 고정합니다
탐침 종류·방향·거리, 계측기 설정, 기판의 전원·부하·동작 모드와 케이블(cable) 배치를 기록합니다. 변경 전후 같은 위치를 찾을 수 있게 사진이나 위치 표식을 남깁니다. 위치 탐색 중 얻은 최대값과 다른 자세의 측정값을 직접 비교하지 않습니다.
회로 수정 후에는 관심 성분뿐 아니라 다른 대역과 운전 상태도 확인합니다. 한 봉우리가 줄어도 다른 성분이 커지거나 다른 모드에서 문제가 생길 수 있습니다.
적합성 판정은 해당 시험 구성에서 확인합니다
근접장 탐침의 결과에는 어느 위치에서 어떤 신호를 찾았고 수정 후 얼마나 달라졌는지 기록합니다. “동일 조건에서 이 위치의 이 주파수 성분이 감소했습니다”처럼 확인 범위를 명확히 합니다. 규격의 한계선과 비교하려면 그 규격이 정한 배치·검출·측정 절차를 사용해야 합니다. 근접장 값이 낮다는 사실이 제품 전체의 합격을 대신하지 않습니다.
작업 순서를 다시 확인합니다
